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谷易電子生產(chǎn)的該BGA產(chǎn)品系列主要應(yīng)用于新能源汽車車規(guī)芯片老化測試用， 適用于電源轉(zhuǎn)換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試，包含汽車EMC芯片老化測試、汽車氣壓控制芯片老化測試、汽車DSP控制器芯片老化測試、汽車液位檢測設(shè)備芯片老化測試、汽車ECU芯片老化測試、壓力傳感器芯片老化測試、汽車ASC芯片老化測試，同時還生產(chǎn)其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試jia具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 BGA484測試架參數(shù)：484pin 0.5間距 19×19mm 頻率：27M