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BGA老化測(cè)試 BGA老化測(cè)試就是一種具有測(cè)試功能的插座，是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。下面我們主要來講解一下BGA老化測(cè)試的應(yīng)用。 BGA老化測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)。BGA老化測(cè)試用來完成這一功能的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是由計(jì)算機(jī)控制的。因此，BGA老化測(cè)試工程師必須對(duì)計(jì)算機(jī)科學(xué)編程和操作系統(tǒng)有詳細(xì)的認(rèn)識(shí)。BGA老化測(cè)試工程師必須清楚了解測(cè)試設(shè)備與器件之間的接口，懂得怎樣模擬器件將來的電操作環(huán)境，這樣器件被測(cè)試的條件類似于將來應(yīng)用的環(huán)境。 BGA老化測(cè)試主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，對(duì)每種單板需制作專用的針床。 深圳市谷易電子有限公司是一家集科研、生產(chǎn)、銷售于一體的技術(shù)密集型高新企業(yè)，公司研發(fā)各類應(yīng)用于集成電路功能驗(yàn)證的測(cè)試座、老化座、燒錄座、集成電路應(yīng)用功能測(cè)試夾具、BGA老化測(cè)試。