產(chǎn)品介紹
一、檢出限
儀器檢出限是在一定的置信范圍內(nèi)，能與儀器噪聲相區(qū)別的最小檢測(cè)信號(hào)對(duì)應(yīng)的濃度值。它是反映測(cè)量?jī)x器信噪比和檢出靈敏度的指標(biāo)，可用相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)衡量。
在光電直讀光譜儀中，按JJG768-2005所述的方法測(cè)定其檢出限：
在儀器正常工作條件下，連續(xù)10次激發(fā)純鐵(空白)光譜分析標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)以10次空白值標(biāo)準(zhǔn)偏差3倍對(duì)應(yīng)的含量為檢出限，儀器在工作條件下，由于本身存在著噪聲，導(dǎo)致測(cè)量讀數(shù)發(fā)生漂移和波動(dòng)而引起測(cè)量偏差。所以根據(jù)儀器檢出限的大小，可以大致推斷出儀器的整體性能。
二、分辨率
在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GETT13966-2013《分析儀器術(shù)語(yǔ)》中對(duì)光譜分辨率的規(guī)定是兩條譜線能分開(kāi)的程度，分辨率對(duì)峰形有著重要影響，更高的分辨率可以將兩個(gè)彼此靠近的峰分得更開(kāi)，峰形更陡；而低分辨率甚至?xí)蓚€(gè)峰當(dāng)做一個(gè)峰。
不同分辨率對(duì)峰形的影響
當(dāng)用1nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)，可得出一個(gè)很漂亮的譜圖。仍是這臺(tái)儀器、這個(gè)樣品，同樣的分析工作者，當(dāng)他分別改用5nm、10nm、20nm、50nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)得到的譜圖，明顯比用1nm光譜帶寬測(cè)試的峰高低很多。特別在50nm 光譜帶寬測(cè)試時(shí)，1nm光譜帶寬測(cè)試時(shí)的兩個(gè)峰就變成一個(gè)饅頭峰。
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