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核徑跡雙卡防偽技術原理是利用原子核或帶重電粒子以一定的速度射入固體材料時形成不同的徑跡,把這些徑跡攝取下來制成印刷版,壓制成激光全息防偽標識,然后把標識一分為二,一半存入計算機,另一半粘貼到產品上,檢測時用計算機識別儀合二為一地識別激光圖像中的核徑跡,假冒標識立即顯形。 以5～30μm的透明塑料薄膜為原料用重離子發生器產生的重離子輻射能源，通過加速器將重離子加速至能量為80Mev以上，使重離子束輻射到塑料薄膜上形成由1×105/cm個透氣透水微孔組成的防偽標識圖案，此圖案可依據客戶的要求設計。