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渦流陣列檢測 渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan? ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。 渦流陣列的優勢 同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優勢： ?檢測時間大幅度降低。 ?單次掃查覆蓋更大檢測區域。 ?減小了機械和自動掃查系統的復雜性。 ?提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。 ?極好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。 ?改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。 渦流陣列探頭 Olympus NDT制造的R/D Tech? ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。 渦流陣列軟件 簡單的數據采集和分析顯示 ?C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。 ?分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。 ?波幅、相位和位置測量。 ?可調彩色調色板。 ?大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。 校準向導 ?分步進行。 ?一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。 ?波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。 報警 ?３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。 ?可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長方形、環形等）。 自動探頭識別和配置 ?探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。 ?頻率范圍保護可避免損壞探頭。 分析模式下的求差工具 該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。 高級實時數據處理 ?實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。 ?使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。 ?數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。