產(chǎn)品介紹
場發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀檢測服務(wù),上海場發(fā)射掃描電子顯微鏡檢測價(jià)格,聚儀網(wǎng)供
檢測名稱: 場發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀
檢測價(jià)格:
品 牌： FEI Electron Optics
型 號(hào)： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS
所 在 地： 上海市
儀器詳情：
詳細(xì)信息與指標(biāo)：
制造廠商： FEI Electron Optics
儀器編碼： W1031
生產(chǎn)國別： 捷克
分類編碼： 010102
購置日期： 2009-11-07
規(guī)格型號(hào)： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS
功能/應(yīng)用范圍：以很高的分辨率對(duì)物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行顯微成像分析；測定物質(zhì)結(jié)構(gòu)；在物質(zhì)微觀形貌及結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析的同時(shí)，對(duì)物質(zhì)成分進(jìn)行微區(qū)分析，微區(qū)尺寸可為納米尺度。
主要附件：能譜儀
主要技術(shù)指標(biāo)：分辨率二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時(shí) nm；1kV時(shí) 低真空模式：30kV時(shí) nm；3kV時(shí) ESEM？環(huán)境真空模式: 30kV時(shí) nm背散射電子(BSE)成像：30kV時(shí) nm放大倍數(shù)高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x
技術(shù)特色：高分辨率，觀察形貌分析結(jié)構(gòu)。
服務(wù)實(shí)例：來樣為船用花鍵軸，在使用時(shí)間約48小時(shí)發(fā)生斷裂，浙江漢力士船用推進(jìn)系統(tǒng)股份有限公司上 海分公司委托我中心對(duì)花鍵軸進(jìn)行斷裂原因分析。 斷裂花鍵軸斷裂位置為光軸區(qū)域，該區(qū)域無臺(tái)階及加工R角等應(yīng)力集中，同類型花鍵軸的一直 使用從未發(fā)生過如此早期斷裂，可以排除其設(shè)計(jì)問題；花鍵軸在斷裂后一直運(yùn)轉(zhuǎn)，斷面嚴(yán)重磨 損，給檢測帶來 難度，本案研究的關(guān)鍵是通過分析判斷確定花鍵軸早期斷裂的原因。 通過宏觀觀察，化學(xué)分析，力學(xué)性能檢驗(yàn)、掃描電鏡斷口分析，金相檢驗(yàn)等分析手段，找到花 鍵軸材料本身是否存在缺點(diǎn)，加工使用
服務(wù)信息
接待時(shí)間（工作日）：周一到周五
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)（元/樣品）：800
儀器聯(lián)系人：沙菲
商家信息：
商家名稱： 上海材料研究所
信 譽(yù)：★★★★★
關(guān)于聚儀：
聚儀網(wǎng)是科研檢測行業(yè)的
