精密的便攜式方塊電阻測(cè)試儀，買合格的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀，就選蘇州晶格電子， 我司屬于有限責(zé)任公司，坐落在長(zhǎng)橋街道新家工業(yè)區(qū)新門路18號(hào)。公司要求員工“基本技能要掌握，可靠技能要求精”，其中也不乏高水平高技術(shù)工作人員。本公司自創(chuàng)立以來一直以質(zhì)量和信譽(yù)為本，為廣大高校、科研院所、企業(yè)提供質(zhì)優(yōu)價(jià)廉的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀，并與諸多企業(yè)真誠(chéng)合作，被廣大用戶所認(rèn)知。

精密的便攜式方塊電阻測(cè)試儀，

M3手持式四探針方塊電阻測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)特征：

精密的便攜式方塊電阻測(cè)試儀，

一、概述

2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

M3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、等國(guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

2.2配套組成：標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用。

2.3優(yōu)勢(shì)特征：

1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。

2高精度：M3手持式四探針方阻儀，帶完善厚度、形狀修正功能，所以測(cè)試精度高。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序，沒有完整修正功能，所以無法修正厚度、形狀修誤差。

3寬量程：超寬五個(gè)檔位，相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程，同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位，測(cè)試范圍有限，適應(yīng)性不廣。

4操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。

5手動(dòng)/自動(dòng)一體化：

6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數(shù)碼和ＬＥＤ數(shù)字表頭顯示，不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光；

7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環(huán)保耐用。

2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

4換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。

2.5測(cè)試臺(tái)選配：根據(jù)不同材料特性需要，測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表

精密的便攜式方塊電阻測(cè)試儀，

一、概述

2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

M3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、等國(guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

2.2配套組成：標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用。

2.3優(yōu)勢(shì)特征：

1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。

2高精度：M3手持式四探針方阻儀，帶完善厚度、形狀修正功能，所以測(cè)試精度高。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序，沒有完整修正功能，所以無法修正厚度、形狀修誤差。

3寬量程：超寬五個(gè)檔位，相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程，同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位，測(cè)試范圍有限，適應(yīng)性不廣。

4操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。

5手動(dòng)/自動(dòng)一體化：

6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數(shù)碼和ＬＥＤ數(shù)字表頭顯示，不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光；

7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環(huán)保耐用。

2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

4換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。

2.5測(cè)試臺(tái)選配：根據(jù)不同材料特性需要，測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表

市場(chǎng)是企業(yè)的方向 , 質(zhì)量是企業(yè)的生命。蘇州晶格電子由一批具備電工儀器儀表可靠知識(shí)的銷售團(tuán)隊(duì)組成，著重開拓市場(chǎng)，擴(kuò)大客戶群；努力提高產(chǎn)品質(zhì)量，精進(jìn)生產(chǎn)技術(shù)，更周詳?shù)臑閺V大高校、科研院所、企業(yè)提供技術(shù)支持和售后服務(wù)?？煽炕兄贫鹊匿N售網(wǎng)絡(luò)，供應(yīng)的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀能在付款當(dāng)天內(nèi)及時(shí)配送，為服務(wù)的多元化打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

蘇州晶格電子生產(chǎn)的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀深受高校、科研院所、企業(yè)的歡迎，在使用上具有很好的性能，主要用于測(cè)量電阻率、方阻、電阻。我們追求品質(zhì)，崇尚科技創(chuàng)新，一直秉承“為客戶創(chuàng)造價(jià)值”的宗旨，堅(jiān)持“全力以赴，客戶至上”的工作準(zhǔn)則，為客戶提供優(yōu)異產(chǎn)品和周詳?shù)慕鉀Q方案。

精密的便攜式方塊電阻測(cè)試儀，買合格的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀，就選蘇州晶格電子， 服務(wù)是單向的，溝通是雙向的，切實(shí)滿足客戶先在的和潛在的需求，提倡給客戶更多的感動(dòng)。蘇州晶格電子有限公司重合同，守信用，維護(hù)企業(yè)好名譽(yù)。衷心期望著與各位朋友互信互助、共同發(fā)展。良好的銷售是打開市場(chǎng)的金鑰匙。我司努力開拓市場(chǎng)，擴(kuò)大銷售范圍，進(jìn)一步向客戶提供更優(yōu)異的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測(cè)試儀和服務(wù)。歡迎來電，愿與廣大新老客戶攜手共創(chuàng)美好的明天。

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