IRLC激光聚焦顯微鏡由近紅外激光和掃描共聚焦組合而成的IRLC有著諸多優(yōu)勢。首先便是具備了對薄晶片的多層高分辨率圖像的采集能力；同時，IRLC具備更深的樣品穿透能力、更高的分辨率和更快的圖像采集速度。 　　近紅外優(yōu)化光路 　　系統(tǒng)包含了全套Olympus近紅外長工作距離物鏡。這組物鏡專為硅晶圓的內部結構檢測而設計，采用優(yōu)化的近紅外光學系統(tǒng)，并配備的校正環(huán)以適應不同后面的硅片或玻璃表面。 　　一鍵雙視野 　　IRLC包含一組可見光彩色成像系統(tǒng)和一組近紅外共聚焦系統(tǒng)。這種搭配可對樣品表面和底層（*深達800μm）同時成像。 　　由于采用了ATF6/0AA/ZAA技術（即實時快速自動聚焦技術），IRLC實現了真正意義上的實時聚焦-不管觀察方式和樣品表面狀況如何變化，視野內持續(xù)聚焦狀態(tài)。 　　IRLC激光聚焦顯微鏡簡潔的軟件界面 　　功能完善、操作簡單，直觀的軟件界面設計旨在提高工作效率，簡化檢測流程。基本操控功能包括對照明、放大倍率、XYZ控制以及對焦補償的參數調整。 載物臺移動可通過軟件操控、手柄操控、或者簡單地點擊實時畫面來完成。 　　高*功能 　　線性XY “pointto point” 和 “pointto multipoint” 測量及高*圖像采集選項可實現均幀、AveragedImage、Z軸序列采集、以及在兩點間圖像序列采集。 　　自動檢測 　　集成了全電動控制和自動聚焦的IRLC，配合全自動軟件可實現全自動檢測流程，并可在同*程內對多個樣品進行檢測。 　　更多詳情請咨詢：https://www.chem17.com/st3598/product_25701825.html