分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)，通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復(fù)雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點。 實施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、 波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程 師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到晶確的結(jié)果。半導(dǎo)體參數(shù)測試儀支持高電壓and大電流詳詢一八一四零六六三四七六； 利用數(shù)字源表簡化半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試 豐富的半導(dǎo)體IV特性測試行業(yè)經(jīng)驗； Q面的解決方案：二極管、MOSFET、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等； 提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測試夾具…… 有關(guān)半導(dǎo)體參數(shù)測試儀支持高電壓and大電流的更多信息，找普賽斯儀表專員一八一四零六六三四七六為您解答