半導(dǎo)體分立器件根據(jù)基材不同,可分為不同類型。以硅基半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等；以寬禁帶材料半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括:SiC.GaN半導(dǎo)體功率器件。 何為電性能測試？半導(dǎo)體分立器件該如何進行電性能測試？ 半導(dǎo)體分立器件電性能測試是對待測器件施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應(yīng),通傳統(tǒng)的分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字萬用表、電壓源、電流源等。 實施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是“五合一”數(shù)字源表(SMU)，集多種功能于一體。 J準(zhǔn)、穩(wěn)定、G效的電性能測試方案可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具，大大提高測試效率。此外,基于核心的高精度數(shù)字源表，普賽斯還提供適當(dāng)?shù)睦|輔件和測試夾具，實現(xiàn)安全、可靠的測試。 普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，有關(guān)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀支持高電壓+大電流的更多詳情請咨詢普賽斯儀表！詳詢一八一四零六六三四七六；