ark帕克原子力顯微鏡掃描器整個掃描范圍內的線性度誤差小于1nm 的高度測量保留真實的樣品表面形貌信息,無需軟件處理. 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面結構信息。 它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。  在半導體產業發展如火如荼的今天，上海磊微伴隨著行業不斷學習、積極提升自身水平， 為越來越多的客戶提供了產品和服務。今后，磊微將以不斷培育的市場為依托，以產品為核心，以運作的團隊為基礎，迎來更快更好的發展。我們一直秉承團結創新、嚴謹奮進的企業精神，秉承誠信務實、互利多贏的經營理念，努力為客戶、為社會提供高品質產品和服務。 http://www.shleiwei.com/Products-37268922.html https://www.chem17.com/st543966/product_37268922.html