薄膜電容的損耗是與制造工藝有關的，卷繞錯邊與噴金工藝的設定是如何造成薄膜電容損耗問題了，本文根據這兩個問題展開了探討，希望本文的內容可以幫助到大家！ 金屬化薄膜電容器芯子的端面要噴涂上金屬（一般為鋅、鋅錫合金），電容器的外引出線（一般為鍍錫銅包鋼線）就焊合到電容器芯子端面的金屬上（噴金層），這樣電容器的接觸損耗主要就是兩個方面。一是薄膜電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質量；二是電容器的引出線與金屬層之間的接觸質量。為了降低薄膜電容器的接觸損耗，應從以下方面著手。 電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質量，即金屬層與電容器芯子的附著質量。 1）卷繞錯邊，根據電容器的品種、電容量、額定電壓選取適當的材料，金屬化薄膜電容器選取適當的金屬化薄膜，電容器在卷繞時要選取適當的材料錯邊，如果錯邊較小，電容器芯子端面在噴涂金屬時，金厲顆粒就會噴到芯子內部，造成電容器短踣，如果錯邊過大，電容器芯子端面的金屬層附近不牢，影響電容器的高頻損耗。 2）噴金工藝設定 電容器的噴金工序是重要的工序，噴金工藝參數設定不好，直接影響產品質量，它會造成電容器芯子的短黯、芼子端面的金屬層與芯子附著力不好，從而造成薄膜電容器高頻損耗增大。我們用正交試駿法進行了試驗，確定了電容器噴金工序的工藝參數。 如您還有其它技術上的疑問可聯系我們，我們竭力為您解決。東莞市智旭電子制造安規電容，高壓薄膜電容，獨石電容，壓敏電阻，薄膜電容，更多品質電容盡在JEC。可以免費提供樣品測試，期待您的蒞臨。以上資訊來自東莞市智旭電子有限公司研發部提供，更多資訊請大家移步至網站中智旭資訊中獲取。